ナノ分析・物質合成に関する支援

本プロジェクトでは奈良先端科学技術大学院大学のこれまでの実績を活かし，けいはんな学研都市を中心に近隣地域一円の産官学におけるナノテクノロジーの研究推進を支援します．特に分子物質の同定などナノ物質合成やナノレベルの物質および材料の分析や解析を中心に支援を実施します． 　主な技術支援としては，支援機器装置群による計測，解析および物質同定や，ナノ分析および物質合成に関する技術相談，情報提供さらに技術講習会および特別講演会等の開催により，幅広いニーズに応えます．

■主な支援機器

装置名称 メーカー 型番 特徴
エネルギーフィルター内蔵透過型電子顕微鏡（TEM） JEOL JEM-3100FEF 加速電圧300keV，EDS，凍結試料作成，最高分解能0.16nm
二次イオン質量分析装置（SIMS) ULVAC PHI ADEPT-1010 両極性イオン検出可能，Csイオン銃&デュオプラズマトロン銃
有機低分子X線構造解析装置 RIGAKU Rapid system X線源 : Mo，Cu-3kW
超伝導NMR測定装置 JEOL JNM ECP-600 他 300MHｚ～600MHz，温度可変，多核照射，2次元計測>
質量分析装置 JEOL JMS-700他 イオン化法 : 電子イオン化法，高速原子衝撃法，エレクトロスプレー法，MALDI法，加速電圧 : 1-10KeV
複合型表面組織分析装置（XPS&AES） Shimadzu KRATOS AXIS-165 XPS : 線源15kV Al（単色），Mg
AES : 3kV LaB6型電子銃
電界放射型走査電子顕微鏡（FE-SEM） JEOL JSM-6301F EDS対応，最高分解能1.5nm 30kV
顕微レーザーラマン測定装置 JASCO NRS-2100 照射波長 : 515nm&413nm，計測波長 : 450～780nm，波数分解能 : 0.1cm-1
蛍光寿命計測装置 Coherent Mira 他 780nm-850nm，100fsec，SHG，THG
15K-300K 5psec-10msec
フーリエ変換赤外分光器 Biorad FTS6000 測定波数 400-4000cm-1 分解能 0.1cm-1
時間分解測定オプション付き
低温測定オプション 専用クライオスタット Oxford Optistat
X線小角散乱測定装置 RIGAKU sss コンフォーカルミラー CCD検出器
顕微円偏光蛍光計測装置 - - 励起375nm，488nm 蛍光 波長分解能2nm 対物 : 10倍，20倍
単一分子蛍光相関顕微鏡 - - 励起488nm，蛍光，時間分解能0.01msec，空間分解能 200nm
薄膜用X線回折装置 PANalytical X'Pert-MRD PW304 F514 逆格子空間マッピング観測可能, 平行ビーム系
蛍光X線分析装置 PANalytical PW2440（Magix PRO）F519 薄膜用，FP MULTI搭載
誘電体薄膜物性評価装置 aixacct TF2000FE DEヒステリシス測定，分極反転疲労測定
電子線マイクロアナライザ（EPMA） Shimadzu EPMA1610 -
電気化学アナライザー BAS ALS-660A -
示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 SIIナノテクノロジー DSC-TG/DTA6200 （ア）DSC
温度範囲：-150℃～725℃
DSC測定範囲：±100mW
DSC感度：1.6μW

（イ）TG-DTA
重量測定：水平差動天秤方式
温度範囲：室温～1100℃
DTA測定範囲：±2.5μV～±2500μV
DTG測定範囲：0.5mg/min～1g/min
円二色性分散計（CD） 日本分光 J-725
測定波長範囲：165～1100nm
バンド幅：0.1,0.2,0.5,1,2,5,10nm
分解能：0.1nm
縦軸分解能：0.01mdeg
X線構造解析装置 Rigaku RINT-TTRⅢ/NM 線源:Cu，定格出力50kV，300mA，Cross Beam Optics搭載




ナノ分析・物質合成に関する支援

次代のナノテクノロジー支援への展開を目指し，おもにナノ分析・物質合成に関する基盤技術の開発に取り組みます．特に，これまで本学では光ナノサイエンスを中心に教育・研究に注力してきた背景から，発光性，誘電性，磁性など特異な性質を有するナノ結晶材料の開発技術，評価技術さらにはその配列制御技術およびデバイス作製などの基盤技術開発に取り組み，情報提供や技術支援にフィードバックして行きます.

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